微先鋒X射線鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀 XRF-2020系列

工作原理：

根據熒光譜線元素能量位置以及其強度確定鍍層的組成以及厚度。

用X熒光光譜儀測試金屬鍍層精確，測試范圍廣，并且細微的面積以及超薄的鍍層都可以測試。

綜上所述，對于金屬電鍍鍍層的膜厚測試，X射線熒光是快速無損檢測電鍍膜厚的*。

X射線或粒子射線經物質照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)

此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。

熒光X射線鍍層厚度測量儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度

來進行鍍層厚度的測量及分析.

韓國XRF-2020鍍層測厚儀

產品功能:

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層厚度,單鍍層,雙鍍層,多鍍層及合金鍍層,不限基材!

1. 鍍層元素范圍:鈦~鈾,包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、金,鉻,鋅鎳合金等。

2. 鍍層層數:可測5層。

3. 測量產品位置尺寸:標準配備0.2mm準直器,測量產品大于0.4mm(可訂制更小準直器)

4. 測量時間:通常15秒。

5. H型號機箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。

6  L型號機箱容納樣品尺寸:550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。

7. 測量誤差:通常小于5%,視樣品具體情況而定。

8. 可測厚度范圍:通常0.01微米到60微米,視樣品組成和鍍層結構而定。

產品參數:

X射線光管 鎢靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm

高電壓 50千伏(1毫安)可根據軟件控制優(yōu)化

探測器 高分辨氣體正比計數探測器

微先鋒X射線鍍層測厚儀X-RAY膜厚儀