金屬鍍層測(cè)厚儀主要應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。結(jié)構(gòu)新穎、體積小、重量輕、可靠。由于采用機(jī)電一體結(jié)構(gòu)，整機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)平穩(wěn)，無振動(dòng)，操作簡單，實(shí)驗(yàn)速度快，降低勞動(dòng)強(qiáng)度。它是一種對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器，測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。
1.將金屬鍍層測(cè)量儀與試樣放置在規(guī)定的環(huán)境中放置4h后測(cè)量。
2.每次測(cè)量前用無水乙醇擦拭儀器的測(cè)量頭。
3.將試樣平放在測(cè)量儀的橡膠板上，使測(cè)量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測(cè)量前儀器必須校零。
5.測(cè)量試樣的電阻值。測(cè)試的實(shí)驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)顯示打印金屬鍍層的方塊電阻、金屬鍍層厚度和均勻度。
金屬鍍層測(cè)厚儀主要測(cè)量方法是采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。磁性測(cè)厚法的膜厚儀是一種超小型測(cè)量儀，它能快速，無損傷，精確地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的噴涂。電鍍層厚度的測(cè)量?？蓮V泛用于制造業(yè)，金屬加工業(yè)，化工業(yè)，商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
二次熒光法的測(cè)厚儀的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。
